NAKAO Kazuwa | Local Organizing Committee, ICE2010 Kyoto
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概要
論文 | ランダム
- マイクロ部品の形状・寸法測定 : 第2報 放電加工による測定用探針の製作
- マイクロ部品の形状・寸法測定 : 第1報 装置の構成と測定原理
- Several- and Many-Electron Artificial-Atoms at Filling Factors between 2 and 1
- Gate Performance in Resonant Tunneling Single Electron Transistor (Special Issue on Technology Challenges for Single Electron Devices)
- Technologies for Artificial Semiconductor Atoms