KIM Han | Korea Electrotechnology Research Institute

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概要

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Korea Electrotechnology Research Institute | 論文

• 超伝導コア形状を組み込んだモデルによる曲げ変形されたBi2223複合テープの臨界電流評価
• 多芯Bi2223/Ag/Ag-Mg超伝導複合テープの引張および曲げ破壊挙動とその臨界電流に及ぼす影響
• 432 曲げ変形を受けたBi2223超伝導複合テープの局所および試料全体の臨界電流分布の統計解析(解析・評価,一般セッション)
• Fabrication of Ge Added Nb3Sn Wire by Internal Tin Method
• Joint of Ag sheathed Bi-2223 tapes

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