SATO Hideaki | Corporate Research and Development Group, Sharp Corporation, 2613–1, Ichinomoto–cho, Tenri, Nara 632, Japan
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概要
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- Corporate Research and Development Group, Sharp Corporation, 2613–1, Ichinomoto–cho, Tenri, Nara 632, Japanの論文著者
論文 | ランダム
- 平行平板電離箱によるナロービームX線吸収線量測定(平成6年度卒業研究論文発表要旨)
- 冷却CCDカメラによるナロービームの評価(平成5年度卒業研究論文発表要旨)
- RadiosurgeryにおけるMVX線ナロービームのフィルムによる線量測定
- 診断用X線管から発生するX線ナロービームの特性
- ナロ-ビ-ムのガンマ散乱による欠陥検出(Maters.Evaluation,33-10,1975)(文献紹介)