Hashimoto Yoshiki | Otari, Inc.

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概要

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論文 | ランダム

• 128 In vitroでのクラススイッチの誘導により一個のB細胞由来のIgM, lgG抗体を検出する培養系の樹立とその自己抗体産生機構の解析への応用
• 超電導線材の交流損失の簡易測定法(4)
• ピックアップコイル法を用いた交流損失測定における誤差評価(1)
• 116 Scatchard解析による抗DNA抗体のアフィニティーの測定とそのレパートア研究への応用
• 新交流損失測定法

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