HAMANO Y. | Department of Earth and Planetary Physics, Univeristy of Tokyo
スポンサーリンク
概要
論文 | ランダム
- GaN系MISダイオードにおける絶縁膜及び界面の評価 (電子デバイス)
- 促進障壁層構造を有するAlGaN/GaN E-mode HFETの作製 (レーザ・量子エレクトロニクス)
- GaN系MISダイオードにおける絶縁膜及び界面の評価 (レーザ・量子エレクトロニクス)
- 促進障壁層構造を有するAlGaN/GaN E-mode HFETの作製 (電子部品・材料)
- GaN系MISダイオードにおける絶縁膜及び界面の評価 (電子部品・材料)