Yan Gaizhen | College of Electrical and Information Engineering, Nanjing University of Aeronautics and Astronautics
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概要
- 同名の論文著者
- College of Electrical and Information Engineering, Nanjing University of Aeronautics and Astronauticsの論文著者
論文 | ランダム
- 長さのトレ-サビリティ
- 半導体レ-ザによる長さ測定--周波数走査型干渉計 (半導体レ-ザをもちいた計測)
- 光波干渉によるブロックゲ-ジ持回り測定について--1980〜1986年度の測定結果を中心に
- 最近の光応用超精密測長技術
- 光波測距における群速度の分散の影響