OKU Yoshiaki | Process Technology Div., Semiconductor Research and Development Headquarters, ROHM CO., Ltd.
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概要
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論文 | ランダム
- 長大斜張橋端2主桁断面の断面辺長比(B/D)の影響による空力特性
- 長大斜張橋端2主桁基本断面の空力特性
- 相対迎角変化に伴う塔状矩形断面の空力特性
- 構造減衰及び断面形状をパラメータとした斜張橋ケーブルの振動応答特性の評価
- ケーブルの空力弾性挙動に関する考察