大内 公耳 | 通商産業省工業技術院資源技術試験所
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概要
論文 | ランダム
- デバイスシミュレーションのパラダイムシフト
- ナノスケールMOSFETの電流駆動力に関するキャリア散乱の影響(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- ナノスケールDG-MOSFETの擬似バリスティック量子輸送特性(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- ナノスケールDG-MOSFETの擬似バリスティック量子輸送特性(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- 準バリスティックMOSFETのゲートオーバーラップ効果(プロセス・デバイス・回路・シミュレーション及び一般)