Mukaigawa Seiji | Research Center for Nanodevices and Systems, Hiroshima University, <BR> 1–4–2 Kagamiyama, Higashi-Hiroshima City, Hiroshima 739-8527, Japan
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概要
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- Research Center for Nanodevices and Systems, Hiroshima University, <BR> 1–4–2 Kagamiyama, Higashi-Hiroshima City, Hiroshima 739-8527, Japanの論文著者
論文 | ランダム
- X線CT装置におけるスライス面内の位置と周波数特性 : 仮想スリットの走査方向別のMTF評価(CT検査 画像特性2, 一般研究発表予稿集, 日本放射線技術学会第33回秋季学術大会)
- CT検査のワークフロー改善のために考案された新しい画像フィルタの特性評価
- 317 NEQを用いたMSCTにおける機種別画像特性 : 第1報 コンベンショナルスキャン(CT検査 画像特性)(一般研究発表)(第32回秋季学術大会)
- 316 NEQを用いた画像再構成法の違いによる画質評価(CT検査 画像特性)(一般研究発表)(第32回秋季学術大会)
- 56 胸部CT検診の導入に向けたMSCTの撮影条件に関する検討 : 検診画像の一指標としてのSPQIの可能性について(CT検査 性能評価)(一般研究発表)(第32回秋季学術大会)