OH Young | Metals Processing Center, Korea Institute of Science and Technology
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概要
論文 | ランダム
- 9p-M-10 H_2^+による電子の弾性散乱
- 分子デバイスに向けた有機分子/金属界面設計 (特集 原子・電子レベルからの材料界面設計)
- Pt-M合金(M=Ru, Sn)上におけるCO酸化に関する活性化エネルギーの評価
- 分子・固体の安定性はどのように実現されるか?--多電子論におけるビリアル定理の重要性
- 20aYM-12 強誘電体薄膜の高速な分子動力学シミュレーション(誘電体,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))