西沢 秀之 | (株)東芝 研究開発センター 記憶材料・デバイスラボラトリー

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概要

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• (株)東芝 研究開発センター 記憶材料・デバイスラボラトリーの論文著者

(株)東芝 研究開発センター 記憶材料・デバイスラボラトリー | 論文

• スピン偏極STMによるナノメートルスケールでの磁化計測
• スピン走査トンネル顕微鏡によるナノメートルスケール磁化状態評価
• 磁性接合におけるスピントランスファ現象の展開
• 磁気記憶材料におけるスピン注入磁化反転とその機構

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