Kwon Young-Se | Department of E.E.

スポンサーリンク

概要

• 同名の論文著者
• Department of E.E.の論文著者

論文 | ランダム

• 高信頼セルによる演算器の耐故障性と遅延時間の評価(ARC-11:高信頼性および応用システム,2008年並列/分散/協調処理に関する『佐賀』サマー・ワークショップ(SWoPP佐賀2008))
• Refractive Indices of Paratellurite and Lithium Iodate in the Visible and Ultraviolet Regions
• 少品種高信頼セルによる演算器の提案と評価(テスト・高信頼,組込技術とネットワークに関するワークショップETNET2008)
• The measurement of the antisymmetric components of nonlinear optical susceptibilities of TeO2 crystal
• 少品種高信頼セルによる演算器の提案と評価(テスト・高信頼,組込技術とネットワークに関するワークショップETNET2008)

もっと見る

スポンサーリンク