Irisawa Tomoki | Research Center for Interface Quantum Electronics, Hokkaido University, North 13 West 8, Sapporo 060, Japan
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概要
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- Research Center for Interface Quantum Electronics, Hokkaido University, North 13 West 8, Sapporo 060, Japanの論文著者
論文 | ランダム
- C-10-20 サファイア基板上GaNのSAW特性(C-10.電子デバイス,エレクトロニクス2)
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- InP HFET高信頼化の検討(光デバイス・部品の信頼性)
- C-10-12 BCB層間膜配線とInP系HEMTを用いたSCFLスタティック分周器