Ohki Michio | Department of Applied Physics, National Defense Academy, Yokosuka 239–8686, Japan
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概要
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- Department of Applied Physics, National Defense Academy, Yokosuka 239–8686, Japanの論文著者
論文 | ランダム
- 30pA13P 新型イオン・スペクトル二次元計測器開発に拠る電位空間二次元分布構造とプラズマ閉じ込め改善の研究(プラズマ計測)
- 30pA12P 超低エネルギーX線波高分析可能新型半導体検出器を用いた電位捕捉電子計測と電位の効果の研究(プラズマ計測)
- 30pA11P 新型マトリックス型半導体X線計測器を用い単一プラズマ・ショット電子温度二次元分布・時間変化同時計測に基づくガンマ10プラズマ安定化の研究(プラズマ計測)
- 30pA10P 半導体検出器を用いた新しいイオン温度並びに電子温度の空間分布・時間変化の単一プラズマショット同時計測・解析法の開発(プラズマ計測)
- 30pA09P 核融合生成中性子損傷に拠る半導体計測器X線感度特性変化の解明(プラズマ計測)