HA Chang-Sik | Department of Polymer Science and Technology, Pusan National University
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概要
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論文 | ランダム
- 原子間力顕微鏡を用いた微細レジストドットパターンの疲労解析
- 原子間力顕微鏡を用いた一括破壊試験法による有機ドットパターンの付着挙動解析
- 原子間力顕微鏡を用いたナノスケール固体の付着・凝集特性解析
- 原子間力顕微鏡を用いたマニピュレーション技術による微細レジストパターン形成
- 原子間力顕微鏡(AFM)を用いた線幅100nm以下のラインレジストパターンの付着力解析