Tanaka Shin-ichi | Microelectronics Engineering Laboratory, Semiconductor Company, Toshiba Corporation,<BR> 8 Shinsugita-cho, Isogo-ku, Yokohama 235-8522, Japan
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概要
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- Microelectronics Engineering Laboratory, Semiconductor Company, Toshiba Corporation,<BR> 8 Shinsugita-cho, Isogo-ku, Yokohama 235-8522, Japanの論文著者
論文 | ランダム
- ホモトピー群を用いた環欠陥の分類とそのエネルギー安定性(基研短期研究会「トポロジーの物理への応用」報告,研究会報告)
- ホモトピー群を用いた環欠陥の分類とそのエネルギー安定性(固体中の欠陥,基研短期研究会「トポロジーの物理への応用」報告,研究会報告)
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- トポロジ-,ホモトピ-,アレルギ--5完-
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