Gosselin Timothy | IBM Microelectronics, Endicott

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概要

• Henderson Donald W.の詳細を見る
• 同名の論文著者
• IBM Microelectronics, Endicottの論文著者

論文 | ランダム

• GeSi/Siヘテロ接合赤外線撮像素子
• 国際学会レポート Aero Sense '99に参加して
• 30p-ZM-8 VO_2薄膜の酸素欠乏効果による電気伝導変化
• 30p-ZM-7 レーザ顕微鏡によるVO_2薄膜表面の相転移観察
• 29p-R-4 レーザアブレーション法によるVOx薄膜の作製(II)

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