大間 敦史 | 東京工業大学 大学院理工学研究科 機械制御システム専攻
スポンサーリンク
概要
論文 | ランダム
- 厚膜抵抗体の安定性と劣化機構-2-湿度試験〔英文〕
- Mechanism of resistance change of thick film resistore due to high frequency discharge trimming and stability of resistance value
- Pd-Ag-Glass薄膜抵抗体
- 厚膜抵抗体の電圧ドリフト特性の改善
- Pd-Ag厚膜抵抗体の経時変化