Sekimoto Misao | NTT LSI Laboratories, 3–1 Morinosato Wakamiya, Atsugi, Kanagawa 243–01
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概要
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- NTT LSI Laboratories, 3–1 Morinosato Wakamiya, Atsugi, Kanagawa 243–01の論文著者
論文 | ランダム
- AT板振動子の温度特性をトレースするSC板発振回路の一構成法
- レーザスペックル干渉を利用した圧電デバイス振動変位分布の絶対測定
- 狭帯域コルピッツ発振回路におけるキャリア近傍位相雑音の改善
- 医用超音波 Elastographyにおける位相差逐次検出による高精度データ伸縮法の提案
- P3-23 変位付与分布の均一化によるelastogramの改善(ポスターセッション3(概要講演))