竹田 誠 | 同和鉱業株式会社探査課
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概要
論文 | ランダム
- Siプラットホーム上の新材料チャネルCMOS (特集 エレクトロニクスの多様化を支える新デバイス技術--2020年を見据えて)
- 最先端電子顕微鏡による局所構造・組成評価
- 透過電子顕微鏡による析出物の微細組織と結晶構造の解析 : Mg-RE(希土類金属)合金
- フィールド・シーケンシャル・フルカラーLCDの開発 (特集 フィールド・シーケンシャル・カラーLCDの現在)
- 5-6 液晶の分子配向制御におけるラビングライン密度と表面配向力の関係