Hokazono Akira | Device Engineering Laboratory, Microelectronics Engineering Laboratory, Toshiba Corporation, 8, Shinsugita–cho, Isogo–ku, Yokohama 235–8522, Japan
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概要
- 同名の論文著者
- Device Engineering Laboratory, Microelectronics Engineering Laboratory, Toshiba Corporation, 8, Shinsugita–cho, Isogo–ku, Yokohama 235–8522, Japanの論文著者
論文 | ランダム
- 流線座標を用いた可視化流脈画像の数値的処理
- サルコイドーシスによる顔面神経麻痺の1症例
- 両側顔面神経麻痺を伴ったサルコイド-シスの1例
- 顔面神経麻痺・リンパ節生検所見など,サルコイド-シスを思わせる所見を呈した全身性結核症の1例
- 障害膝の歩行能力について