酒井 貢 | オリンパス光学工業(株)研究部
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概要
論文 | ランダム
- 30pA11P 新型マトリックス型半導体X線計測器を用い単一プラズマ・ショット電子温度二次元分布・時間変化同時計測に基づくガンマ10プラズマ安定化の研究(プラズマ計測)
- 30pA10P 半導体検出器を用いた新しいイオン温度並びに電子温度の空間分布・時間変化の単一プラズマショット同時計測・解析法の開発(プラズマ計測)
- 30pA09P 核融合生成中性子損傷に拠る半導体計測器X線感度特性変化の解明(プラズマ計測)
- 30pA21P 高速電子同時入射下における新型イオン電流量絶対値計測器の開発(プラズマ計測)
- 30pA19P 新型半導体X線計測器によるガンマ10セントラル部及びアンカー部の単一プラズマショット電子温度空間分布・時間変化計測(プラズマ計測)