Keller John | IBM Microelectronics Division, Hopewell Jct, NY 12533, USA
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概要
論文 | ランダム
- 点整合法による多角導体柱の高精度電磁波散乱解析
- 多角導体柱による平面電磁波の散乱解析 : 端点を含む領域分割法
- C-1-26 点整合法による多角導体柱の電磁波散乱解析(C-1. 電磁界理論, エレクトロニクス1)
- アイリスを持つ平行平板キャビティのレーダ断面積
- アイリスを持つ平行平板導波管キャビティによる電磁波の散乱解析 : キャビティ内部に媒質を充填した場合