Park Soon-Oh | Process Development Team, Semiconductor R&D Division, Samsung Electronics Co., San #24, Nongseo-Ri, Kiheung-Eup, Yongin-City, Kyunggi-Do, Korea
スポンサーリンク
概要
- 同名の論文著者
- Process Development Team, Semiconductor R&D Division, Samsung Electronics Co., San #24, Nongseo-Ri, Kiheung-Eup, Yongin-City, Kyunggi-Do, Koreaの論文著者
論文 | ランダム
- 各種陶材焼付用Pd合金のサイクリックボルタンメトリー測定
- 歯科用Ni含有合金から溶出するNiイオンの定量
- 貴金属合金表面に形成した樹脂含浸構造による完全な接着
- P-30 PdまたはAuを添加した時効硬化沈Ag-Mn合金の腐食挙動
- P-012 好熱性硫黄酸化細菌の温度変化に対する生残性テスト(極限環境,ポスター発表)