Takahata Kiyoto | NTT Device Innovation Center, NTT Corporation
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概要
論文 | ランダム
- 19. CTW-1000 シリーズにおける 320^2 マトリックス画像と 512^2 マトリックス画像の比較検討(MRI・X 線 CT-II, 中部部会)
- 336. 診断 X 線画像における散乱線特性(計測技術 X 線スペクトル)
- 16. X 線撮影における散乱線特性 (第 2 報) : 実測と計算による散乱線含有率の比較, 検討(物理, 中部部会)
- 15. X 線撮影における散乱線特性 (第 1 報) : モンテカルロシミュレーションによる解析(物理, 中部部会)
- 336. 診断 X 線画像における散乱線特性(第 46 回総会学術大会会員研究発表予稿)