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田村 房義 | TOTO(株)UD研究所 主幹
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222 電子応力から見たすべり面の機構
界面層におけるモル流束方程式による固液界面不安定現象の理解 : 成長界面II
界面層におけるモル流束方程式による核生成現象の理解 : 成長界面II
一軸変形を受けたbcc, fcc単純金属のすべり面における電子圧力の変化(分子動力学シミュレーション)
434 イオン注入によるBN高圧相合成時における表面形態の変化(O.S.9. 機能薄膜創成と物性)
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