岡部 健士 | 社団法人 土木学会

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論文 | ランダム

• On the radiation damages and their recovery in Si1-XGeX devices
• Recovery enhancement of hFE due to pulse aging for electron-irradiated npn Si transistor
• Siトランジスタにおける電子線損傷の回復機構
• 電子線照射NPH Siトランジスタの深い準位と焼鈍特性
• Thermal annealing effect of radiation-induced defects in NPN Silicon transistor

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