ISHIMARU K. | SoC Research & Development Center, Toshiba Corporation Semiconductor Company
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概要
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論文 | ランダム
- 接触式・非接触式粗さ測定結果の相関性について
- 精密測定高度化に関する研究--三次元測定機についての調査
- 精密測定高度化に関する研究(2)測定環境の精度に及ぼす影響について
- ローレットを用いた鏡面仕上げの開発
- 精密測定機の性能評価に関する研究--測定を通じた生産技術の支援に向けて