ANZAI Wataru | The University Museum, The University of Tokyo, 7–3–1 Hongo, Bunkyo-ku, Tokyo 113–0033, Japan

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概要

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論文 | ランダム

• Zr,Y,Sb添加のZnOバリスタの課電劣化への影響 (特集 平成22年基礎・材料・共通部門大会)
• Bi系ZnOバリスタへのBa添加によるZnO粒成長と電気特性への影響 (特集 平成22年基礎・材料・共通部門大会)
• Influence of surrounding dielectrics on the data retention time of doped Sb2Te phase change material
• Mechanism of oxidation on Si2Sb2Te5 phase change material and its application
• Development of Stroboscopic Microscope Using Fringe Scanning Interferometry Technique(FSIT) (特集「センシング--システムからデバイスまで」)

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