Yano Hiroyuki | Microelectronics Engineering Laboratory, Toshiba Corporation, 8 Shinsugita–cho, Isogo–ku, Yokohama, 235–8522, Japan
スポンサーリンク
概要
- 同名の論文著者
- Microelectronics Engineering Laboratory, Toshiba Corporation, 8 Shinsugita–cho, Isogo–ku, Yokohama, 235–8522, Japanの論文著者
論文 | ランダム
- 凹面で受波された集束音波の第2高調波成分
- 集束超音波の照射による試料の温度上昇とB/A測定への影響
- PA18 焦点領域で発生する非線形第2高調波の平面受波時の強調検出(ポスターセッションA)
- C4 集束ガウスビームを利用した小体積試料の非線形パラメータ測定法
- 非線形音響 (<特集>超音波)