高岡 修 | 株式会社 日立ハイテクサイエンス 製造技術部 BT 製造技術課
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概要
論文 | ランダム
- 24pA-7 重イオン照射によるC_薄膜からのスパッタリング
- 24pA-6 重イオン衝突によって誘起したC_分子からの二次電子放出
- VP7-19 Harmonic scalpel (KATANA)を用いたTransanal Endoscopic Microsurgery (TEM)
- X-ray diffraction topography of BaTiO3 at phase transition temperature (Special issue: Ferroelectric materials and their applications)
- X-Ray Diffraction Topography on a BaTiO_3 Crystal (Condensed Matter : Electronic Structure, Electrical, Magnetic and Optical Properties)