Ishiguro Seiji | Department of Electronic Engineering, Tohoku University, Sendai 980–77

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概要

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• Department of Electronic Engineering, Tohoku University, Sendai 980–77の論文著者

論文 | ランダム

• 2p-H-3 散逸捕捉イオン不安定性における軌道効果
• 11p-Q-9 散逸捕捉イオン不安定性における有限ベータ効果
• 11p-Q-6 有限バナナ幅効果を考慮した実効電場
• 30a-SB-4 捕捉イオン不安定性のモデル方程式の微視的導出 I
• 30p-Pβ-6 Tokamak Ignition Approach by Spot Model

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