村上 明子 | 日本アイ・ビー・エム（株）　東京基礎研究所

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概要

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論文 | ランダム

• 30a-F-15 アモルファスSi:Au系の金属・非金属転移
• 1p-L-2 アモルファスSiAuの低温における抵抗測定
• シリコンウエハー付き電極系SF_613.56MHz放電の診断
• 1a-L-8 PrIn_3核断熱消磁と核比熱測定
• 2a-NF-8 核断熱消磁冷却器の設計と建設(II)

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