椿 忠雄 | Institute of Brain Research, University of Tokyo

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概要

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• Institute of Brain Research, University of Tokyoの論文著者

論文 | ランダム

• BIST (Built-in-Self Test)技術
• コアベースシステムLSIに対するテストの課題
• 実数値シミュレーションに基づくテスト容易性評価モデル
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• 6.並列LSI-CADにおける成果と課題 (第五世代コンピュータプロジェクトの成果と残された課題)

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