藪内 正彦 | 日本化薬 (株) 総合研究所

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論文 | ランダム

• γ線照射KCI単結晶の電子伝導と絶縁破壊
• γ線照射重合時のメチルメタクリレートの絶縁特性の変化
• マイラの電気伝導と絶縁破壊
• 固体絶縁破壊と二次的因子の影響
• X線着色結晶の絶縁破壊

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