小野 守章 | ＪＦＥスチール株式会社　スチール研究所

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概要

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• ＪＦＥスチール株式会社　スチール研究所の論文著者

論文 | ランダム

• Analysis of Plane Wave Scattering by a Conducting Thin Plate and a Criterion for Ray Tracing Method
• Wiener-Hopf Solutions to Electromagnetic Wave Scattering by a Finite Conducting Thin Plate in Case of a Line Source
• 両性の深層
• Near-Field Recording with a 266 nm Laser for Disc Mastering Process
• 評価のデザイン--評価委員会の立場から (国立大学法人の評価)

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