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山口 智実 | 関西大学 工学部 管理工学科
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Siトランジスタにおける電子線損傷の回復機構
電子線照射NPH Siトランジスタの深い準位と焼鈍特性
Thermal annealing effect of radiation-induced defects in NPN Silicon transistor
DLTS法による電子線照射Siダイオ-ドの熱処理に関する一考察
電子線照射GaAs LEDの熱処理-通電効果に関する一考察
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