南條 隆一 | 電気通信大学　電気通信学部　知能機械工学科　青山研究室

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論文 | ランダム

• 過渡電流および定常電流を用いたMOSキャパシタ劣化機構解明
• 基板/酸化膜および酸化膜/ゲート界面の微細構造制御による酸化膜信頼性の向上
• ギガビットDRAM用高データレート回路技術
• 脳と人間
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