中山 和尊 | (株) ノリタケカンパニーリミテド開発技術本部
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概要
論文 | ランダム
- 欠測値をもつ半導体工場測定データにおける平均ベクトル間の多重比較法(一般セッション7)
- Simultaneous confidence intervals of the means in the intraclass correlation model with general missing data
- 楕円母集団におけるプロフィール分析に関する検定統計量の分布について(セッション2, 日本計算機統計学会第18回大会報告)
- Testing Equality of Means in the Intraclass Correlation Model with Missing Data(セッション2, 日本計算機統計学会第18回大会報告)
- 欠測値をもつ一様構造モデルにおける平均成分に関する同時信頼区間について(日本計算機統計学会 第19回大会)