岸井 典之 | ソニー (株) 中央研究所

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概要

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ソニー (株) 中央研究所 | 論文

• フォトルミネッセンス法 (PL)
• 高密度光磁気記録用薄膜
• 1)Ni-Ba-Mg基体合金によるカソードの特性(テレビジョン電子装置研究会(第85回))
• イオンスバッタリングによる深さ方向分析

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