福住 俊一 | 阪大院工・CREST
スポンサーリンク
概要
論文 | ランダム
- 液晶物性値の高精度測定法(発光型/非発光型ディスプレイ合同研究会)
- 液晶物性値の高精度測定法(ディスプレイに関する技術全般,LCD(バックライトを含む),PDP,有機/無機EL,CRT,FED,VFD,LEDなどのディスプレイに関するデバイス,部品・材料及び応用技術,発光型/非発光型ディスプレイ合同研究会)
- システム化のコツ(vol.177)『学習』の仕組と『アンカリング』
- 22aWE-10 表面の凹凸に起因する液晶のアンカリングの数値計算(22aWE 液晶,領域12(ソフトマター物理,化学物理,生物物理))
- 表面の凹凸パターンによるアンカリング : Berreman のアンカリングの理論の批判的再検討による新展開