永野 章 | 住重試験検査(株)

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概要

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住重試験検査(株) | 論文

• 摩耗測定(薄層放射化による摩耗試験)
• 軽イオン照射による半導体パワーデバイスの電気特性の改良
• 仁科記念サイクロトロンセンターを利用する荷電粒子放射化分析 : シリコン半導体中の窒素の定量(荷電粒子放射化分析施設)
• 住重試験検査株式会社(荷電粒子放射化分析施設)

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