中 精一 | 現北海道農業試験場
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概要
論文 | ランダム
- EBIC Observation on the InP/InGaAs/InP Heterostructure Photodiode
- Admittance Study of a Single Electron Trap in the LPE InP/InGaAsP Heterostructure Diode
- Transmission Electron Microscopic Observation of Misfit Dislocation in InP/InGaAsP Double -Heterostructures
- Inhomogeneous Distribution of Avalanche Multiplication in InP APDs
- Calculation of Impurity Concentrations in LPE InP Layers