川俣 修一郎 | Electrotecbnical Laboratory

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概要

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論文 | ランダム

• 発変電所長期使用パワー半導体素子の信頼性評価研究
• 発変電所整流装置搭載パワー半導体素子の長期信頼性評価
• 半導体Hガイドにおける光プラズマによるミリ波の漏洩特性
• 半導体増幅器を用いた1.3μm帯4波長多重無中継伝送の検討
• SiCパワーデバイスの開発状況-Si半導体の限界を越える新半導体

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