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大沢 隆 | 神奈川歯科大学・歯学部・歯科生体工学講座
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23p-L-1 半導体の照射損傷における欠陥レベルと欠陥生成率の決定法
5a-G-11 P型Siの電子線照射損傷
3a-TA-2 Si中の電子線照射による欠陥の分布
治山思想の系譜と近代砂防--経済収益性先行の国土開発からの脱却と、現代に対応した国土保全システムの再検討 (国土保全の先兵・・・THE SABO)
河道貯留作用の解析と遊水地への応用
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