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玉川 憲 | 日本アイ·ビー·エム株式会社 東京基礎研究所
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CIRP2003参加報告
316 ステンレス鋼の ELID 研削特性および表面性状評価
CIRP2003参加報告 (特集 国際会議レビュー)
AC電圧印加状態で高分子安定化処理を施した時のVHR及び電流応答特性
UV硬化型液晶性モノマーを添加して高分子安定化処理をしたネマティック液晶セルの電圧保持率特性
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