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玉田 紀治 | 電子技術総合研究所極限技術部
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電子技術総合研究所極限技術部 | 論文
3a-W-9 リボソーム膜レプリカ微細構造のSTM観察像
3a-B4-10 有機物質のSTM測定(III)
3a-B4-2 トンネル顕微鏡用探針
3a-B4-9 STM/STSによる4Hb-TaS2とGICの電子状態解析
3a-B4-5 UHV-STMによるSi表面の観察(III)
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