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坂口 正之 | 台糖ファイザー株式会社新薬開発センター
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炭酸ガスレ-ザ-散乱によるイオン温度測定
8p-C-6 炭酸ガスレーザー散乱によるイオン温度測定法の開発
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高温超伝導薄膜フィルタの相互変調測定(マイクロ波超電導/一般)
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