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Hsu Shun-liang | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd., Hsinchu 300, Taiwan, R.O.C.
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Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd., Hsinchu 300, Taiwan, R.O.C.の論文著者
Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd., Hsinchu 300, Taiwan, R.O.C. | 論文
Time-Dependent Drain- and Source-Series Resistance of High-Voltage Lateral Diffused Metal–Oxide–Semiconductor Field-Effect Transistors during Hot-Carrier Stress
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